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Aehr Test Systems是一家為老化和測試邏輯、光學和內存集成電路提供測試系統的供應商,在全球安裝了大約2,500個系統。該公司的產品包括ABTS系統,用於低功率和高功率邏輯器件以及所有常見類型的存儲器件的封裝部件的生產和鑑定測試;FOX-XP系統,是一個全晶圓接觸和單片芯片/模塊測試和老化系統,用於復雜器件的老化和功能測試,例如尖端存儲器、數字信號處理器等;WaferPak接觸器,這是一種全晶圓探針卡,能夠測試晶圓,使集成電路(IC)製造商能夠在Aehr Test FOX系統上對全晶圓進行測試和老化,以及定制設計的可重複使用的DiePak載體用於FOX-XP系統的測試板,使IC製造商能夠執行單片芯片和模塊的測試/老化。
名稱 | 年齡 | 成立於 | 主旨 |
---|---|---|---|
Gayn Erickson | 57 | 2012 | President, CEO & Director |
Laura A. Oliphant | 60 | 2019 | Independent Director |
Howard T. Slayen | 76 | 2008 | Independent Director |
Geoffrey Gates Scott | 74 | 2020 | Independent Director |
Fariba Danesh | 64 | 2021 | Independent Director |
Rhea J. Posedel | 81 | 1977 | Founder & Independent Chairman |
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